致力于機(jī)器視覺器件的研發(fā)、制造和銷售,主營(yíng):環(huán)形光源,條形光源,四面可調(diào)光源,同軸光源,光源控制器,工業(yè)相機(jī)和UVC殺菌光源等Ctrl+D 收藏網(wǎng)址
檢測(cè)需求為表面不能有劃痕磕傷邊緣磕碰
為了兼容多重類型缺陷,檢測(cè)方式采用明場(chǎng)和暗場(chǎng)分兩次曝光的檢測(cè)方式,明場(chǎng)使用同軸光檢測(cè)表面明顯劃傷磕碰等缺陷,低角度四面可調(diào)光做暗場(chǎng)檢測(cè)較為輕微的邊緣磕碰以及表面擦傷。
四面可調(diào)也可為后期檢測(cè)難度更大缺陷分四次曝光,使用2.5D檢測(cè)方式檢測(cè),檢測(cè)類似輕微凹陷變形等缺陷
聯(lián)系方式